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          XQZ光学测角比较仪

          XQZ光学测角比较仪

          日期:2019-02-07 人气:
          XQZ光学测角比较仪

          用途和特点:
            可广泛适用于光学及机械制造业中,计量部门、车间以及研究院、所的实验室。实施光学棱镜、光学平板的自准测量、参照标准角规对金属零件及光学零件的比较测量;导轨的直线度及平板的平面度校准测量;两个平面的垂直度、轴与轴端面垂直度测量等。
            该系列仪器操作简便、直观,测量稳定可靠,借助辅助设备用途广泛。

          技术参数:

          型号 
          Model

          示值 
          Graduation

          分度范围 
          Scale Range

          目镜放大倍率 
          Magnification

          示值不确定度 
          Uncertainty

          工作距离范围 
          working range

          外形 
          Dimension(D×W×H)

          XQ60-ZⅠ

          1′

          V60′,H40′

          10×/15×

          ±6″

          0~1.4m

          200×250×400

          XQ15-ZⅡ

          15″

          V50′,H38′

          20×

          ±3″

          0~1.4m

          200×250×400

          选配件:
            CCD监控系统(适用ZI、ZII型)


          上海星庆光学仪器有限公司.png
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